Als Teil eines professionellen Entwicklungskurses, Mike Bixenmann (Magnalytix), Vladimir Sítko (PBT works) und Adam Klett (KYZEN) werden das Seminar leiten “Die Zuverlässigkeit der elektronischen Baugruppe und Komponenten als Funktion der Baugruppenreinheit.”, das stattfinden wird am Sonntag, den 15. März, von 13:30 bis 16:30 Uhr. Der Kurs bietet praktische Beispiele dafür, wie die erforderliche Reinheit elektronischer Baugruppen erreicht werden kann und vor allem, wie diese Reinheit zuverlässig überprüft und verifiziert werden kann. Der Fokus liegt auf realistischen, modernen Fertigungs- und Reinigungsprozessen sowie geeigneten Testmethoden zur Bewertung von Prozessen und Produktzuverlässigkeit.
Der SIR-Test von Magnalytix geht weit über traditionelle Testmethoden hinaus und wurde speziell für die Anforderungen der modernen Elektronikfertigung entwickelt. Anstelle generischer Testcoupons werden realistische Testboards mit komplexen Komponenten und vollständigen Fertigungsprozessen verwendet, einschließlich selektivem Löten und Reinigen. Für Elektronikhersteller ergibt sich daraus zuverlässige Informationen über Baugruppenreinheit, Prozessstabilität und langfristige Zuverlässigkeit unter realistischen Bedingungen. Kritische ionische Rückstände und flussmittelbedingte Risiken werden so frühzeitig erkannt. Der Magnalytix SIR-Test unterstützt speziell die Prozessqualifikation, Reinigungsvalidierung und Produktzulassung und hilft, Reklamationen zu reduzieren, Qualitätsanforderungen zuverlässig zu erfüllen und die langfristige Zuverlässigkeit elektronischer Baugruppen sicherzustellen.
Ein weiteres wichtiges Highlight von APEX 2026 ist die Konferenzpräsentation von Mike Bixenmann und Vladimir Sitko mit dem Titel “Entwicklung von Glass-SIR-Testboards zur Identifizierung schädlicher Flussmittelrückstände während der Montage- und Reinigungsprozesse.” Die Präsentation wird stattfinden am Mittwoch, den 18. März, als Teil der Technischen Konferenz (Session 22). In ihrer gemeinsamen Präsentation werden beide Experten einen tiefgehenden Überblick über die Entwicklung von Glass-SIR-Testboards seit 2010 geben und die aktuellen Anwendungen dieser hochsensiblen Prüftechnologie erläutern. Sie werden hervorheben, wie Glass-SIR-Testboards speziell genutzt werden können, um Löt- und Reinigungsprozesse realistisch zu bewerten und kritische ionische Rückstände aufzudecken, die die Langzeitzuverlässigkeit von elektronischen Baugruppen beeinträchtigen können.
Mit seiner Teilnahme am Schulungs- und Konferenzprogramm unterstreicht Magnalytix zusammen mit PBT Works sein Engagement, SIR-Tests von einem rein akademischen Verfahren zu einem praktischen Werkzeug für die Prozessqualifikation zu entwickeln. Für Elektronikhersteller, die eine ganzheitliche Sicht auf Baugruppenreinigung, Prozessstabilität und Langzeitzuverlässigkeit haben, bietet die APEX Expo 2026 wertvolle Einblicke, von Wissenstransfer bis hin zu anwendungsorientierter Testmethodik.
Zusätzlich zu seinem Diagnoseportfolio wird PBT Works seine innovativen Reinigungssysteme für die Reinigung von Leiterplatten, Wafer-Level-Packages, Leistungsmodule und SMD-Schablonen auf der APEX EXPO 2026 in Halle C-D, Stand 1226, ausstellen.
Mehr Informationen auf Seite 12: Broschüre Apex Expo