Im Rahmen eines Kurses zur beruflichen Weiterbildung, Mike Bixenmann (Magnalytix), Wladimir Sítko (PBT-Arbeiten) und Adam Klett (KYZEN) wird das Seminar leiten “Die Zuverlässigkeit der elektronischen Baugruppe und der Komponenten in Abhängigkeit von der Sauberkeit der Baugruppe”.”, die am Sonntag, 15. März, von 13:30 Uhr bis 16:30 Uhr. Der Kurs zeigt an praktischen Beispielen, wie die geforderte Sauberkeit elektronischer Baugruppen erreicht wird und vor allem, wie diese Sauberkeit zuverlässig überprüft und nachgewiesen werden kann. Im Mittelpunkt stehen realitätsnahe, moderne Fertigungs- und Reinigungsprozesse sowie geeignete Prüfverfahren zur Bewertung von Prozessen und Produktzuverlässigkeit.
Der SIR-Test von Magnalytix geht weit über die traditionellen Testmethoden hinaus und wurde speziell für die Anforderungen der modernen Elektronikfertigung entwickelt. Anstelle von generischen Testcoupons werden realitätsnahe Testplatinen mit komplexen Bauteilen und kompletten Fertigungsprozessen, einschließlich Selektivlöten und Reinigung, verwendet. Das Ergebnis für die Elektronikhersteller sind zuverlässige Informationen über die Sauberkeit der Baugruppen, die Prozessstabilität und die langfristige Zuverlässigkeit unter realistischen Bedingungen. Kritische ionische Rückstände und flussmittelbedingte Risiken werden so frühzeitig erkannt. Der Magnalytix SIR-Test unterstützt gezielt die Prozessqualifizierung, die Reinigungsvalidierung und die Produktzulassung und trägt dazu bei, Reklamationen zu reduzieren, Qualitätsanforderungen zuverlässig zu erfüllen und die langfristige Zuverlässigkeit elektronischer Baugruppen zu gewährleisten.
Ein weiterer wichtiger Höhepunkt des APEX 2026 ist der Konferenzvortrag von Mike Bixenmann und Wladimir Sitko mit dem Titel “Entwicklung einer Glas-SIR-Testplatte zur Identifizierung schädlicher Flussmittelrückstände während der Montage- und Reinigungsprozesse”.” Die Präsentation findet statt am Mittwoch, 18. März, im Rahmen der Technischen Konferenz (Session 22). In ihrem gemeinsamen Vortrag geben die beiden Experten einen ausführlichen Überblick über die Entwicklung von Glass SIR Testboards seit 2010 und erläutern die aktuellen Anwendungen dieser hochsensiblen Prüftechnologie. Sie werden aufzeigen, wie Glas-SIR-Testplatten gezielt eingesetzt werden können, um Löt- und Reinigungsprozesse realitätsnah zu bewerten und kritische Ionenrückstände aufzudecken, die die langfristige Zuverlässigkeit von elektronischen Baugruppen beeinträchtigen können.
Mit der Teilnahme am Schulungs- und Konferenzprogramm unterstreicht Magnalytix gemeinsam mit PBT Works sein Engagement, die SIR-Prüfung von einem rein akademischen Verfahren zu einem praktischen Werkzeug für die Prozessqualifizierung zu entwickeln. Für Elektronikhersteller, die Baugruppenreinigung, Prozessstabilität und langfristige Zuverlässigkeit ganzheitlich betrachten, bietet die APEX Expo 2026 wertvolle Einblicke, vom Wissenstransfer bis zur anwendungsorientierten Testmethodik.
Zusätzlich zu seinem Diagnoseportfolio stellt PBT works auf der APEX EXPO 2026 in Halle C-D, Stand 1226, seine innovativen Reinigungssysteme für die Reinigung von Leiterplatten, Wafer-Level-Packages, Leistungsmodulen und SMD-Schablonen vor.
Weitere Informationen auf Seite 12: Broschüre Apex Expo